众所周知, ICP 光谱仪分析中使用的原理是电弧 (或火花) 的高温是来自固态的直接气化炉, 激发释放每个元素的特征波长，晶格被分割成光后, 这些元素的特征谱线通过这个突出的缝隙通过光谱的波长被注入到每个光电倍增管, 通过光学信号到电信号、仪器的控制测量系统、电信号和调制解调器的集成。经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换, 然后通过计算机处理, 打印出元素的内容。

       从上述原理来看, ICP 光谱仪分析特别适用于炉前的分析, 它可以看出它具有独特的优势, 因为它已发展成为金属冶炼和铸造行业的重要分析手段,这是对非常敏感设备的快速和电流的光谱分析。

　　ICP 光谱仪由以下主要部分组成:

　　1、事故缝隙:光谱仪成像系统的点是在入射光照射下形成的。

　　2、准直分量: 缝隙发出的光转换为平行光。准直元件, 一个独立的透镜, 反射器, 或可能是一个凹面晶格, 直接集成在色散元件, 如凹面光栅光谱仪。

　　3. 分散元件:光栅通常用于通过空间中的波长将光信号分散到多个光束。

　　4. 焦点组件:在聚焦分散的光束中, 可以形成一系列焦平面入射缝的图像, 每个图像对应于特定的波长。

　　5. 探测器阵列: 放置在焦平面上, 用于测量每个波长图像点的光强。探测器阵列可以是 CCD 阵列或其他类型的光电探测器阵列。